Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 1368 | 512 |
h-индекс | 8 | 8 |
i10-индекс | 8 | 8 |
Соавторы
- Rui ZhangCUHKSZ, SRIBD & National University of SingaporeПодтвержден адрес электронной почты в домене nus.edu.sg
- Kaibin HuangProfessor and Head, Dept. of EEE, University of Hong Kong; IEEE Fellow; ISI Highly Cited ResearcherПодтвержден адрес электронной почты в домене eee.hku.hk
- Liang LiuHighly Cited Researcher, EEE Department, The Hong Kong Polytechnic UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене polyu.edu.hk
- Yong ZengSoutheast University, China; Purple Mountain Laboratories, ChinaПодтвержден адрес электронной почты в домене seu.edu.cn
- Hyojin LeeQualcomm Technologies Inc.Подтвержден адрес электронной почты в домене postech.ac.kr
- Lee JuhoSamsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Подписаться
Seunghyun Lee
Samsung Research, Samsung Electronics
Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com